Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 80 van 137 gevonden artikelen
 
 
  On the new procedure for the determination of surface conditions in thin films with internal layer inhomogeneity
 
 
Titel: On the new procedure for the determination of surface conditions in thin films with internal layer inhomogeneity
Auteur:
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 15 (1976) nr. 6 pagina's 1 p.
Jaar: 1976
Inhoud:
Uitgever: Published by Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 80 van 137 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland