|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 64 van 95 gevonden artikelen
| Titel: |
Results of a 160 × 106 device-hour reliability assessment and failure analysis of TTL SSI integrated circuits, Part 2. Survey of dominant IC failure mechanisms and analysis of failure causes |
| Auteur: | |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 15 (1976) nr. 4 pagina's 2 p. |
| Jaar: |
1976 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 64 van 95 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |