|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Simulation study on single-event burnout in field-plated Ga2O3 MOSFETs |
| Auteur: |
Yu, Cheng-hao Guo, Hao-min Liu, Yan Wu, Xiao-dong Zhang, Li-long Tan, Xin Han, Yun-cheng Ren, Lei |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 149 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 13 gevonden artikelen
| << vorige |