|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
TLP/VFTLP investigation on eNVM 1T1R PCM in FD-SOI UTBB CMOS technology at room temperature |
| Auteur: |
Galy, Ph. Jacquier, B. Sandrini, J. Arnaud, F. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 148 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |