|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 28 van 37 gevonden artikelen
| Titel: |
Reliability estimation of thin film platinum resistance MEMS thermal mass flowmeter by step-stress accelerated life testing |
| Auteur: |
Kang, Qiaoqiao Li, Yan Zhao, Jia Tao, Jifang |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 147 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 28 van 37 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |