|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 37 gevonden artikelen
| Titel: |
Accelerated ageing effects on the EMC performance of LDO regulators under multi-stresses: Experimental study and prediction approach |
| Auteur: |
Liu, Hao Fan, Xuliang Hu, Xiaofeng Liu, Sheng Wang, Junjie |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 147 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 37 gevonden artikelen
| volgende >> |