|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Interfacial trap charge and self-heating effect based reliability analysis of a Dual-Drain Vertical Tunnel FET |
| Auteur: |
Das, Diganta Pandey, Chandan Kumar |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 146 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |