|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Evaluation of SEU impact on convolutional neural networks based on BRAM and CRAM in FPGAs |
| Auteur: |
Tian, Haonan Ibrahim, Younis Chen, Rui Jin, Chen Shi, Shuting Xing, Jiesi Li, Jianjun Chen, Li |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 144 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |