|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 52 gevonden artikelen
| Titel: |
Effect of NC pins ESD test on the reliability of integrated circuits with high density BGA package |
| Auteur: |
Lu, Jian Ma, Yong Zhang, Kaihong Yu, Yongjian Zhang, Huibin |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 139 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 52 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |