|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 52 gevonden artikelen
| Titel: |
Comprehensive study of the radiation effects on the LDMOS transistors |
| Auteur: |
Lei, Zeyu Zhang, Chenchen Wu, Ming Zou, Xuming Yan, Junzheng Chen, Zhuojun |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 139 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 52 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |