|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 52 gevonden artikelen
| Titel: |
Ab initio investigations in amorphous silicon dioxide: Proposing a multi-state defect model for electron and hole capture |
| Auteur: |
Wilhelmer, Christoph Waldhoer, Dominic Jech, Markus El-Sayed, Al-Moatasem Bellah Cvitkovich, Lukas Waltl, Michael Grasser, Tibor |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 139 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 52 gevonden artikelen
| volgende >> |