|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 93 van 115 gevonden artikelen
| Titel: |
Relaxation analysis to understand positive bias induced trapping in ferroelectric FETs with Si and Gd dopants |
| Auteur: |
Wang, Yu-Yun Wang, Kuan-Chi Chang, Ting-Yu Ronchi, Nicolò O'Sullivan, Barry Banerjee, Kaustuv van den Bosch, Geert Van Houdt, Jan Wu, Tian-Li |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 138 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 93 van 115 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |