|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 72 van 115 gevonden artikelen
| Titel: |
Microstructural evolution during the crack propagation at the bond-wire contact area of IGBT power modules upon power cycling |
| Auteur: |
Shqair, Mustafa Khatir, Zoubir Ibrahim, Ali Halouani, Ayda Berkani, Mounira |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 138 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 72 van 115 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |