|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 70 van 115 gevonden artikelen
| Titel: |
Isolation properties and failure mechanisms of vertical Pt / n-GaN SBDs |
| Auteur: |
Fregolent, M. Boito, M. Marcuzzi, A. De Santi, C. Chiocchetta, F. Treidel, E. Bahat Wolf, M. Brunner, F. Hilt, O. Würfl, J. Meneghesso, G. Zanoni, E. Meneghini, M. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 138 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 70 van 115 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |