|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 61 van 115 gevonden artikelen
| Titel: |
Impact of a defect trapping layer on the reliability of 1.3 μm quantum dot laser diodes grown on silicon |
| Auteur: |
Zenari, M. Buffolo, M. De Santi, C. Shang, C. Hughes, E. Wan, Y. Herrick, R.W. Meneghesso, G. Zanoni, E. Bowers, J. Meneghini, M. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 138 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 61 van 115 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |