|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 58 van 115 gevonden artikelen
| Titel: |
Hot-carrier reliability and performance study of transistors with variable gate-to-drain/source overlap |
| Auteur: |
Devoge, P. Aziza, H. Lorenzini, P. Masson, P. Julien, F. Marzaki, A. Malherbe, A. Delalleau, J. Cabout, T. Regnier, A. Niel, S. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 138 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 58 van 115 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |