|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 54 van 115 gevonden artikelen
| Titel: |
FEM-based analysis of avalanche ruggedness of high voltage SiC Merged-PiN-Schottky and Junction-Barrier-Schottky diodes |
| Auteur: |
Shen, Chengjun Yu, Renze Jahdi, Saeed Mellor, Phil Munagala, Sai Priya Hopkins, Andrew Simpson, Nick Ortiz-Gonzalez, Jose Alatise, Olayiwola |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 138 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 54 van 115 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |