|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 44 van 115 gevonden artikelen
| Titel: |
Evaluation of the impact of defects on threshold voltage drift employing SiO2 pMOS transistors |
| Auteur: |
Tselios, Konstantinos Michl, Jakob Knobloch, Theresia Enichlmair, Hubert Ioannidis, Eleftherios G. Minixhofer, Rainer Grasser, Tibor Waltl, Michael |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 138 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 44 van 115 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |