Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 114 van 115 gevonden artikelen
 
 
  Unclamped inductive stressing of GaN and SiC Cascode power devices to failure at elevated temperatures
 
 
Titel: Unclamped inductive stressing of GaN and SiC Cascode power devices to failure at elevated temperatures
Auteur: Gunaydin, Yasin
Jahdi, Saeed
Yuan, Xibo
Yu, Renze
Shen, Chengjun
Munagala, Sai Priya
Hopkins, Andrew
Simpson, Nick
Hosseinzadehlish, Mana
Ortiz-Gonzalez, Jose
Alatise, Olayiwola
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 138 () nr. C pagina's p.
Jaar: 2022
Inhoud:
Uitgever: The Authors
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 114 van 115 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland