Details van artikel 114 van 115 gevonden artikelen
Unclamped inductive stressing of GaN and SiC Cascode power devices to failure at elevated temperatures
Titel:
Unclamped inductive stressing of GaN and SiC Cascode power devices to failure at elevated temperatures
Auteur:
Gunaydin, Yasin Jahdi, Saeed Yuan, Xibo Yu, Renze Shen, Chengjun Munagala, Sai Priya Hopkins, Andrew Simpson, Nick Hosseinzadehlish, Mana Ortiz-Gonzalez, Jose Alatise, Olayiwola
Verschenen in:
Microelectronics reliability
Paginering:
Jaargang 138 () nr. C pagina's p.
Jaar:
2022
Inhoud:
Uitgever:
The Authors
Bronbestand:
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
Details van artikel 114 van 115 gevonden artikelen