|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 100 van 115 gevonden artikelen
| Titel: |
Role of p-GaN layer thickness in the degradation of InGaN-GaN MQW solar cells under 405 nm laser excitation |
| Auteur: |
Nicoletto, Marco Caria, Alessandro De Santi, Carlo Buffolo, Matteo Huang, Xuanqi Fu, Houqiang Chen, Hong Zhao, Yuji Meneghesso, Gaudenzio Zanoni, Enrico Meneghini, Matteo |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 138 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 100 van 115 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |