|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of slow-current transients or current collapse in AlGaN/GaN HEMTs with field plate and high-k passivation layer |
| Auteur: |
Komoto, Kazuki Saito, Yasunori Tsurumaki, Ryouhei Horio, Kazushige |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 134 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 12 gevonden artikelen
| volgende >> |