Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 4 van 22 gevonden artikelen
 
 
  Analysis on damage and failure behavior of printed silver wires under high-density current loading
 
 
Titel: Analysis on damage and failure behavior of printed silver wires under high-density current loading
Auteur: Sun, Quan
Lu, Yebo
Tang, Chengli
Li, Chao
Zuo, Chuncheng
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 129 () nr. C pagina's p.
Jaar: 2022
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 4 van 22 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland