|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 91 van 111 gevonden artikelen
| Titel: |
Reliability assessment of film capacitors oriented by dependent and nonlinear degradation considering three-source uncertainties |
| Auteur: |
Ye, Xuerong Hu, Yifan Zheng, Bokai Chen, Cen Feng, Rui Liu, Sirui Zhai, Guofu |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 126 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 91 van 111 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |