|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 80 van 111 gevonden artikelen
| Titel: |
Optimal design of cyclic-stress accelerated life tests for lognormal lifetime distribution under type I censoring |
| Auteur: |
Kim, Seung-Hyun Sung, Si-Il |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 126 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 80 van 111 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |