|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 78 van 111 gevonden artikelen
| Titel: |
On the stochastic nature of conductive points formation and their effects on reliability of MoS2 RRAM: Experimental characterization and Monte Carlo simulation |
| Auteur: |
Huang, Yifu Wu, Xiaohan Gu, Yuqian Ge, Ruijing Akinwande, Deji Lee, Jack C. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 126 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 78 van 111 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |