|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 72 van 111 gevonden artikelen
| Titel: |
Morphology and reliability aspects of 40 nm eSTM™ architecture |
| Auteur: |
Melul, Franck Marca, Vincenzo Della Bocquet, Marc Akbal, Madjid Laine, Pierre Trenteseaux, Frederique Mantelli, Marc Hesse, Marjorie Regnier, Arnaud Niel, Stephan La Rosa, Francesco |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 126 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 72 van 111 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |