|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 67 van 111 gevonden artikelen
| Titel: |
Local metal segregation as root cause for electrical shorts in highly doped pressure sensor devices |
| Auteur: |
Simon-Najasek, M. Diehle, P. Große, Ch. Hübner, S. Brokmann, G. Sprenger, B. Altmann, F. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 126 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 67 van 111 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |