|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 63 van 111 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigations on acceptable breakdown voltage variation of parallel-connected SiC MOSFETs applied to olid-state circuit breakers |
| Auteur: |
Lou, Zaiqi Wada, Keiji Saito, Wataru Nishizawa, Shin-ichi |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 126 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 63 van 111 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |