|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 58 van 111 gevonden artikelen
| Titel: |
Influence of different test strategies on the power cycling test results of 6.5 kV SiC MOSFETs |
| Auteur: |
Gerlach, M. Boldyrjew-Mast, R. Bruchhold, F. Lutz, J. Basler, T. Schwarzmann, H. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 126 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 58 van 111 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |