|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 53 van 111 gevonden artikelen
| Titel: |
Impacts of carbon ions on SEU in SOI SRAM |
| Auteur: |
Gao, J. Zhang, Q. Xi, K. Li, B. Li, B. Wang, C. Lu, P. Wang, K. Zhang, G. Zhao, F. Li, J. Hao, L. Wang, L. Luo, J. Han, Z. Liu, J. Guo, G. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 126 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 53 van 111 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |