|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 46 van 111 gevonden artikelen
| Titel: |
Impact of an AlGaN spike in the buffer in 0.15 μm AlGaN/GaN HEMTs during step stress |
| Auteur: |
Gao, Zhan Rampazzo, Fabiana Meneghini, Matteo Modolo, Nicola De Santi, Carlo Blanck, Hervé Stieglauer, Hermann Sommer, Daniel Grünenpütt, Jan Kordina, Olof Chen, Jr-Tai Jacquet, J-C Lacam, C. Piotrowicz, S. Meneghesso, Gaudenzio Zanoni, Enrico |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 126 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 46 van 111 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |