|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 111 van 111 gevonden artikelen
| Titel: |
Vertical GaN devices: Process and reliability |
| Auteur: |
You, Shuzhen Geens, Karen Borga, Matteo Liang, Hu Hahn, Herwig Fahle, Dirk Heuken, Michael Mukherjee, Kalparupa De Santi, Carlo Meneghini, Matteo Zanoni, Enrico Berg, Martin Ramvall, Peter Kumar, Ashutosh Björk, Mikael T. Ohlsson, B. Jonas Decoutere, Stefaan |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 126 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 111 van 111 gevonden artikelen
| << vorige |