|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Prediction of IGBT junction temperature using improved cuckoo search-based extreme learning machine |
| Auteur: |
Liu, Boying Chen, Guolong Lin, Hsiung-Cheng Zhang, Weipeng Liu, Jiaqi |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 124 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |