|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 23 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
Short term reliability and robustness of ultra-thin barrier, 110 nm-gate AlN/GaN HEMTs |
| Auteur: |
Gao, ZHan Meneghini, Matteo Harrouche, Kathia Kabouche, Riad Chiocchetta, Francesca Okada, Etienne Rampazzo, Fabiana De Santi, Carlo Medjdoub, Farid Meneghesso, Gaudenzio Zanoni, Enrico |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 123 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 23 van 32 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |