|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
The impact of self-heating and its implications on hot-carrier degradation – A modeling study |
| Auteur: |
Tyaginov, S. Makarov, A. Chasin, A. Bury, E. Vandemaele, M. Jech, M. Grill, A. De Keersgieter, A. Linten, D. Kaczer, B. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 122 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |