|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of the passivation-induced VTH shift in p-GaN HEMTs with Au-free gate-first process |
| Auteur: |
Tang, Shun-Wei Huang, Zhen-Hong Chen, Yi-Cheng Wu, Cheng-Hung Lin, Pin-Hau Chen, Zheng-Chen Lu, Ming-Hao Kao, Kuo-Hsing Wu, Tian-Li |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 122 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |