|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
A simulation-based analysis of effect of interface trap charges on dc and analog/HF performances of dielectric pocket SOI-Tunnel FET |
| Auteur: |
Pandey, Chandan K. Singh, A. Chaudhury, S. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 122 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 20 gevonden artikelen
| volgende >> |