|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Crack identification and evaluation in BEoL stacks of two different samples utilizing acoustic emission testing and nano X-ray computed tomography |
| Auteur: |
Silomon, Jendrik Gluch, Jürgen Clausner, André Paul, Jens Zschech, Ehrenfried |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 121 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |