|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Top-down, multi-scale numerical simulation of MEMS microphones under guided free fall tests |
| Auteur: |
Faraci, David Ghisi, Aldo Adorno, Silvia Corigliano, Alberto |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 121 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |