|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Single-Event Latchup sensitivity: Temperature effects and the role of the collected charge |
| Auteur: |
Guagliardo, S. Wrobel, F. Aguiar, Y.Q. Autran, J.-L. Leroux, P. Saigné, F. Pouget, V. Touboul, A.D. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 119 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |