|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Thermal characterization of GaN lateral power HEMTs on Si, SOI, and poly-AlN substrates |
| Auteur: |
Magnani, Alessandro Cosnier, Thibault Amirifar, Nooshin Chatterjee, Urmimala Zhao, Ming Li, Xiangdong Geens, Karen Decoutere, Stefaan |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 118 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 13 gevonden artikelen
| << vorige |