|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Automated defect detection of insulated gate bipolar transistor based on computed laminography imaging |
| Auteur: |
Li, Yan Liu, Shuangquan Li, Chunmiao Zheng, Yushuang Wei, Cunfeng Liu, Baodong Yang, Yao |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 115 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |