|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 31 van 175 gevonden artikelen
| Titel: |
Assessing multi-output Gaussian process regression for modeling of non-monotonic degradation trends of light emitting diodes in storage |
| Auteur: |
Lim, S.L.H. Duong, P.L.T. Park, H. Singh, P. Tan, C.M. Raghavan, N. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 114 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 31 van 175 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |