|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 168 van 175 gevonden artikelen
| Titel: |
Thermal behaviour evolution of an IGBT module after aging measured by thermoreflectance |
| Auteur: |
Metayrek, Y. Kociniewski, T. Khatir, Z. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 114 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 168 van 175 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |