|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 139 van 175 gevonden artikelen
| Titel: |
Reliability analysis in GeTe and GeSbTe based phase-change memory 4 kb arrays targeting storage class memory applications |
| Auteur: |
Lama, G. Bourgeois, G. Bernard, M. Castellani, N. Sandrini, J. Nolot, E. Garrione, J. Cyrille, M.C. Navarro, G. Nowak, E. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 114 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 139 van 175 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |