|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 105 van 175 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of the current collapse behaviour in GaN power HEMTs with highly adjustable pulse and measurement concept |
| Auteur: |
Goller, M. Thim, M.A. Song, J. Kowalsky, J. Franke, J. Lutz, J. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 114 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 105 van 175 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |