Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 4 van 14 gevonden artikelen
 
 
  Bias stress instability of LTPS TFTs on flexible substrate with activation annealing temperature
 
 
Titel: Bias stress instability of LTPS TFTs on flexible substrate with activation annealing temperature
Auteur: Kim, Soonkon
Kim, Hyojung
Kim, Kihwan
Choi, Pyungho
Choi, Byoungdeog
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 113 () nr. C pagina's p.
Jaar: 2020
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 4 van 14 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland