|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Analytical model for total ionizing dose-induced excess base current in PNP BJTs |
| Auteur: |
Li, L. Chen, X.C. Li, X.J. Li, Z.H. Jian, Y. Wu, Y.Z. Zhang, J.P. Ren, M. Zhang, B. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 113 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |