Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 74 van 131 gevonden artikelen
 
 
  Nonparametric analysis of reliability data in an extended failure model
 
 
Titel: Nonparametric analysis of reliability data in an extended failure model
Auteur: Abe, Shu-Nichi
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 11 (1972) nr. 1 pagina's 2 p.
Jaar: 1972
Inhoud:
Uitgever: Published by Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 74 van 131 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland