|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
The analysis of the anomalous hot-carrier effect in partially depleted SOI pMOSFETs fabricated on modified wafer |
| Auteur: |
Zhu, Huilong Bi, Dawei Xie, Xin Hu, Zhiyuan Zhang, Zhengxuan Zou, Shichang |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 103 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 13 gevonden artikelen
| << vorige |